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原子力顯微鏡(環境控制型)FM-Nanoview EC-AFM
SKU: FM-Nanoview EC-AFM
工作模式
接觸模式、輕敲模式
照明方式
LED柯勒照明系統
選配模式
摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力/靜電力
光學調焦
粗微動手動調焦
力譜曲線
F-Z力曲線、RMS-Z曲線
攝像頭
500萬像素CMOS傳感器
工作環境
空氣/液體、惰性氣體、加熱/制冷環境
顯示屏
10.1寸平板顯示器,帶圖像測量功能
XY掃描范圍
50×50um,可選20×20um,100×100um
加熱裝置
溫度控制范圍室溫~250℃(選配)
Z掃描范圍
5um,可選2.5um,10um
冷熱一體臺
溫度控制范圍-20℃~220℃(選配)
掃描分辨率
橫向0.2nm,縱向0.05nm
掃描速率
0.6Hz~30Hz
樣品尺寸
Φ≤68mm,H≤20mm
掃描角度
0~360°
樣品臺行程
25×25mm
運行環境
Windows XP/7/8/10操作系統
光學物鏡
5X/10X/20X/50X平場復消色差物鏡
通信接口
USB2.0/3.0
光學目鏡
10X
應用案例
鋇鐵氧形貌
/
范圍
20µm×20µm
瀝青
/
掃描范圍
8µm×8µm
鋇鐵氧磁疇
/
范圍
20µm×20µm
電池材料
/
掃描范圍
8µm×8µm
注意事項:
儀器成套性與可選購件可參考產品原頁面,本頁只提供儀器核心技術參數。
產品價格均含有商品運費(大陸地區除外)及發票的價格但是
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工程師上門培訓及調試的費用。
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科信報價:¥0.00
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