SRA-6745T8體視大平臺數碼顯微鏡線路板切片測量

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SRA-6745T8三目連續變倍研究級體視顯微鏡配有8寸大平臺特別是針對大尺寸的半導體FPD檢查，線路板切片測量，晶圓檢測。配置了高眼點大視野目鏡，物鏡可連續變倍。具有視場寬廣，分辨率高，立體感強，成像清晰等特點?？膳鋽z影攝像裝置，連接電腦進行觀察，并可對圖像進行編輯、保存、打印、輸出等操作。廣泛用于教學示范、生物解剖、農林業的種子檢查篩選、公安部門的刑偵檢測，電子精密部件裝配檢修，紡織業的品質控制、文物郵票的輔助鑒別及各種物質表面觀察。

顯微鏡參數

序號	名稱	技術參數
1	觀察頭	三目觀察頭，45º傾斜
2	變倍比	1:6.7
3	目鏡	高眼點大視野目鏡WF10X/22mm可調
4	物鏡	0.67x-4.5x
5	放大倍數	6.7x-45x（選購0.3倍、2X物鏡及30倍目鏡最高可達2-270倍）
6	瞳距調節范圍	54-75mm
7	調焦機構	透反射用機架, 低手位粗微同軸調焦機構。粗調行程35mm,微調精度0.001mm。帶有防止下滑的調節松緊裝置和隨機上限位裝置。內置100-240V寬電壓系統，采用數字調光，具有光強設定與復位功能
8	載物臺	T8移動平臺，平臺面積 300*275mm，移動行程：200mmX200mm機械平臺，X、Y方向同軸調節；
9	反射照明系統	LED環形燈照明連續可調，正白/暖色顏色可定制
10	透射照明系統	5W可調LED燈室，透、反射通用，預定中心
11	攝像接口	0.5倍專用攝像接口
12	顯微鏡工業相機	高清DM210顯微相機（選購）
13	圖像處理軟件	拍照，錄像，測量等（選購）
14	標尺	高精度型測微尺，格值0. 1m 總長10mm（選購）

注意事項：
儀器成套性與可選購件可參考產品原頁面，本頁只提供儀器核心技術參數。
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