首頁 > 顯微鏡 > 體視顯微鏡 > SRA-6745T8體視大平臺數碼顯微鏡線路板切片測量 |
SRA-6745T8體視大平臺數碼顯微鏡線路板切片測量 配有8寸大平臺特別是針對大尺寸的半導體FPD檢查,線路板切片測量,晶圓檢測
產品介紹
性能特點 1、放大倍數連續可調6.7-45倍 2、視場范圍大,立體感強,成像清晰 3、上下LED光,可觀察不透明、半透明和透明物體 技術參數
顯微鏡參數
|
![]() |
|||||||
![]() |
![]() |
XTD-7045雙目連續變倍體視顯微鏡 ![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
SVB-7045A三目萬向體視顯微鏡 ![]() |
![]() |
![]() |
|||||||
![]() |
|||||||
![]() |
![]() |
DTX系列單筒視頻體視顯微鏡 ![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
SRD-2040雙目定倍體視顯微鏡 ![]() |
![]() |
![]() |
|||||||
![]() |
|||||||
![]() |
![]() |
SVA-7045雙目萬向體視顯微鏡 ![]() |
![]() |
![]() |
![]() |
SZ66研究級體視顯微鏡 科研級三目體視顯微鏡,立體顯微鏡,檢測顯微鏡 ![]() |
![]() |
![]() |
|||||||
![]() |
首頁 > 顯微鏡 > 體視顯微鏡 > SRA-6745T8體視大平臺數碼顯微鏡線路板切片測量 |