介紹原子力顯微鏡(AFM)

余憶童幼時,能張目對日,明察秋毫

見貌小微物,必細察其紋理,故時有物外之趣

-- 兒時記憶沈復

縱觀古今所有的發明無一不是對自然現象的觀察,進而觸發靈感再經研究發展而生新事物,由此凸顯"觀察"的重要性.隨著科技的發展進入到納米世界領域,而"觀察"這項工作也漸漸遠超過肉眼,放大鏡,光學顯微鏡等儀器所能負荷的范圍.所以原子力顯微鏡(AFM)相應而生.

AFM簡介

1. 全名 Atomic force microscope 簡稱AFM

2.1986年由G.Bining,C.F. Quate和C.Gerber共同發明

3.原子力顯微鏡(AFM)與掃描隧道顯微鏡(STM)最大的差別在于并非利用原子隧道效應,而是利用原子之間的凡得瓦力(Van Der Waals Force)作用來呈現樣品的表明特征.

原子力顯微鏡基本原理

就像用手指頭觸摸點字一般,當受過訓練的手指劃過一排盲文字體時就能讀取其中的意義. AFM的探針代替了手指,精密的移動裝置代替了手指的移動過程

原子力顯微鏡的分類

原子力顯微鏡大致分為三類: 1.接觸式 2.非接觸式 3.敲擊式

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