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        首頁 > 顯微鏡 > 掃描探針顯微鏡 > 原子力顯微鏡光學一體機  FM-Nanoview Op-AFM
        
    
        

        

        

        

        


        
	
        
    	
        
        
            

	    
            
            
            
  	    
        
    
           
                		
	
        

        
        
        
        
	
        
    	
        
            
        
		
        
                		           
                
        
        		
    	
        
	
        
            
        
        原子力顯微鏡光學一體機  FM-Nanoview Op-AFM    
        
   
    
        
        
            
    
        SKU:  FM-Nanoview Op-AFM
        		
        
        
    
              
                




        產品介紹
        

         
        

         
        

        ◆ 光學金相顯微鏡和原子力顯微鏡一體化設計，功能強大
        

        ◆ 同時具備光學顯微鏡和原子力顯微鏡成像功能，兩者可同時工作，互不影響
        

        ◆ 同時具備光學二維測量和原子力顯微鏡三維測量功能
        

        ◆ 激光檢測頭和樣品掃描臺集成一體，結構非常穩定，抗干擾性強
        
        ◆ 精密探針定位裝置，激光光斑對準調節非常簡便
        
        ◆ 單軸驅動樣品自動垂直接近探針，使針尖垂直于樣品掃描
        
        ◆ 馬達控制加壓電陶瓷自動探測的智能進針方式，保護探針及樣品
        

        ◆ 超高倍光學定位系統，實現探針和樣品掃描區域精確定位
        
        ◆ 集成掃描器非線性校正用戶編輯器，納米表征和測量精度優于98%
        

         
        


        技術參數
        

        

         
        

        
            
    
        
        
            工作模式
            接觸模式、輕敲模式
            光學目鏡
            10X
        
        
        
        
            選配模式
            摩擦力/側向力、振幅/相位、磁力/靜電力
            照明方式
            LED柯勒照明系統
        
        
        
        
            力譜曲線
            F-Z力曲線、RMS-Z曲線
            光學調焦
            粗微動手動調焦
        
        
        
        
            XY掃描范圍
            50×50um，可選20×20um，100×100um
            攝像頭
            500萬像素CMOS傳感器
        
        
        
        
            Z掃描范圍
            5um，可選2.5um，10um
            顯示屏
            10.1寸平板顯示器，帶圖像測量功能
        
        
        
        
            掃描分辨率
            橫向0.2nm，縱向0.05nm
            掃描速率
            0.6Hz~30Hz
        
        
        
        
            樣品尺寸
            Φ≤68mm，H≤20mm
            掃描角度
            0~360°
        
        
        
        
            樣品臺行程
            25×25mm
            運行環境
            Windows   XP/7/8/10操作系統
        
        
        
        
            光學物鏡
            5X/10X/20X/50X平場復消色差物鏡
            通信接口
            USB2.0/3.0
        
        
            

        

         應用案例 
        

           GaN襯底掃描范圍3µm×3µm.png      單晶硅金字塔.png  掃描范圍30µm×30µm.png
        

         
        

                   GaN襯底/掃描范圍3µm×3µm                                              單晶硅金字塔/掃描范圍30µm×30µm
        

         
        

            微米光柵.png         MoTe.png    掃描范圍16µm×16µm.png
        

            微米光柵/掃描范圍30µm×30µm                                                MoTe/掃描范圍16µm×16µm
        

        



        包裝清單
        

        

         
        

        

		        		
	
        

        

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        原子力顯微鏡（環境控制型）FM-Nanoview EC-AFM
        		
        
        原子力顯微鏡（環境控制型）FM-Nanoview EC-AFM 
         
        		
        
    
  

    	
        三維測量顯微鏡
        		
        
        三維測量顯微鏡 
         
        		
        
        
    
        
    
        
    	
    
        
    
        
    	    
    
        
  
    

        


        

        
	
        
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