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平板掃描式原子力顯微鏡FM-Nanoview LSCL-AFM
產品介紹
◆實現探針和樣品組合式移動掃描的商業化原子力顯微鏡; ◆采用三軸獨立閉環壓電平移式掃描臺,實現大范圍高精度掃描; ◆ 三軸獨立式掃描,XYZ互不影響,非常適合三維材料及形貌檢測; ◆ 電動控制樣品移動臺和升降臺,可任意編程多點位置實現快速自動化檢測; ◆ 龍門架式掃描頭設計,大理石底座,真空吸附和磁性吸附式載物臺; ◆ 閉環壓電掃描臺無需非線性校正,納米表征和測量精度優于99.5%。 技術參數
應用案例
砷化鎵晶圓/掃描范圍0.9µm×0.9µm/Sa=2.15nm,Sq=2.69nm |
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FM-Nanoview1000AFM 分體式原子力顯微鏡 帶光學定位的CCD觀測系統,實時觀測與定位探針樣品掃描區域 ![]() |
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